17. Adhesion Aspects in MEMS-NEMS
Author: Seong H Kim
Library: Center and Library of Islamic Studies in European Languages (Qom)
Subject:
Classification :
TK7874
.
S466
2011
18. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3
Author: edited by Samuel H. Cohen and Marcia L. Lightbody.
Library: Center and Library of Islamic Studies in European Languages (Qom)
Subject: Microscòpia d'escombratge per efecte túnel.,Microscòpia electrònica de rastreig.,Microscòpia electrònica d'escombratge.
Classification :
QH212
.
A78
E358
2002
